大小SD卡金点转DIP48翻盖探针测试座

产品特点及性能参数:

※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;

※ 产品通用程度高,只要换限位框,即可测试所有引脚相同,外形尺寸不同的SD卡;

※ 上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证SD卡的压力均匀,不移位;

※ 高精度的定位槽,保证SD卡定位精确,生产效率高;

※ 配不同的主探板,可实现芯邦,UT165,安国,SMI,NETWORK方案可互换!

※ 探针材料:铍铜(标准);

※ 探针可更换,维修方便,成本低;

※ 绝缘材料:FR-4、PPS等;

※ 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离);

※ 可以定制TF卡/SD卡1拖4的夹具;

※ 可以定制测试Flash wafer晶圆探针台;

大小SD卡金点转DIP48翻盖探针测试座

可定制三合一开卡器;

来源:KZT3899

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