◆ 采用合金翻盖旋钮单扣式结构,操作方便;
◆ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
◆ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
◆ 高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位精确，测试效率高；
◆ 测试频率可达9.3GHz；
◆ 用途：集成电路应用功能验证测试；
◆ 可根据用户要求定做各种阵列的socket IC测试座；
◆ 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便；
◆ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
◆ 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球
◆ 用途：集成电路应用功能验证测试
◆ 可根据用户要求定做
各种阵列的BGA测试座
来源：KZT3899
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