京东京造的无线充鼠标垫到底好不好？深度拆解分析

写在前面：

感谢EEWORLD免费提供样品拆解。第一次参与拆解活动，没什么经验，各位看官将就着围观。

本次拆解报告大致按以下顺序展开：使用体验→开箱→测试→拆解→恢复→原理简介。

拆解开始，搬好板凳，花生瓜子矿泉水……

随产品赠送了洁面乳兑换券。外包装相当简约，没那么多花里胡哨的东东。京东物流也不靠谱，包装边角有损坏。

产品信息在外包装背面左下角。

外包装侧边京造广告：好生活，京心造。

包装封口有生产日期：

打开包装，内有塑胶托盘固定鼠标垫，鼠标垫x1，1m的A2C数据线x1，说明书x1；鼠标垫大小大概一张A4纸大小：305.8×206.8x6mm：

正面十字闪电标记了无线充电线圈位置，供电输入口为C口，用U型金属卡扣固定，金属卡扣上正面有简约的logo：J.ZAO；Logo下方的圆孔为指示灯；金属卡扣背面有两个螺丝固定，也是整个产品仅有的两颗螺丝。

背面铭牌信息：

上电测试，待机指示灯红色，充电指示灯绿色。无金属异物检测功能（或许是不灵敏，测试用的是直径30mm的金属片，没有做大金属异物测试），这种桌面用品很容易造成金属被加热发生安全事故。

DC5V输入可以正常工作，DC9V输入红灯闪烁报警无法工作，必须快充输入才能升9V。

三星Galaxy S21 Ultra充电测试，测试环境温度不超过22度。整个充电过程没有进入10W快充，充电输入功率大概维持在6W左右；从没电到充满电要四个半小时左右。

作为对比参考，提供一个正常进入三星快充的充电曲线

水果13进入了7.5W模式，充满电也要4个小时。

偶尔会看到有些人担心无线充有辐射问题，纯属杞人忧天，瞎扯淡。借此机会提供一个不严谨的测试数据供参考。

测试环境本身的磁场强度max值为0.006mT

无线充待机，探头至于线圈表面，max值为5.96mT，比环境背景大了接近1000倍，别担心，且往后看。

把探头位于无线充线圈正上方15-20cm处看以下数据：max值为0.006mT；将探头放置于线圈侧边附近，max值为0.007mT；磁场强度恢复测试环境数值，可见无线充线圈的磁场作用范围有限。

下面看一下无线充功率传输过程中的磁场情况，探头位于手机和无线充线圈中间，max值为22.348mT，比背景环境值大了3700多倍。

功率传输过程中，再看看手机周围的磁场,侧边和正上方的max值分别为，0.006mT和0.037mT，可见无线充线圈产生的磁场都被约束在TX和RX线圈之间，泄漏的很少。

从仿真图上可以更直观的看到：

线圈不加铁氧体的情况：

线圈增加铁氧体后可以看到，磁场绝大部分被约束在两个磁片之间。

再来看看无线充功率传输过程中的辐射情况：

水平和垂直方向分别如下（附图为其他无线充数据，不是京造无线充鼠标垫的数据）

看完这些如果你还担心无线充有辐射不安全，那建议你把手机也扔掉，电子设备都不要用了。

拆解就很简单了，把C口的两颗螺丝拧掉，把边缘的双面胶撬开就搞定。

PCB板很简陋，C口输入进来，通过LDO 7550给主控供电，两颗双MOS LN8363A组成全桥，主控定制丝印2039CN，背面仅放了一颗贴片双色LED。

这板子没有详细测试的欲望，就不测试了，直径复原发挥余热了。复原很简单，找3M双面胶粘一下就搞定。

原理很简单，但要讲清楚，很费精力，这里不详细介绍，只简单解释一下。

从基本的RLC电路开始。

看一下其增益曲线（频率归一化到LC谐振频率），可见峰值增益右侧具有单调性，只要调节频率即可改变R上的电压。

为了实现电气隔离，RLC电路加入变压器

看一下其增益曲线（频率归一化到LC谐振频率），可见峰值增益右侧具有单调性，只要调节频率即可改变R上的电压。

无线充线圈之间松耦合，次级漏感不能忽略，再加入补偿电容

看一下其增益曲线（频率归一化到LC谐振频率），可见加入补偿电容后，导致某些工况增益曲线不是单峰，峰值右侧失去单调性，如果落入这种工况会导致控制逻辑反向，系统不稳定，因此设计的时候需要避开不单调区间。

简单聊一下，无线充的反馈方式。

TX→RX：FSK，

RX→TX：ASK（载波110K-205KHz，信号2KHz）

调制与解调框图如下。

需要注意的是，RX用开关电容ASK调制的时候，可能会造成TX电压无法解调的情况，设计的时候需要特别注意，所以很多应用TX会采用电压，电流同时解调，甚至会引入相位检测解调。

为什么会出现无法解调的情况，我们看一下增益曲线就知道。如下图红框，加入ASK调制电容和不加入调制电容，其增益在工作频率范围内有交叉点，这个时候单一的电压解调就会失效。

来源：电子工程世界